高速信號測試 SI實驗試場地租憑

產品概述：

  信號完整性（SI, Signal Integrity），定義為信號在電路中能以正確時序和電壓做出回應的能力。廣義上講，信號完整性指的是在高速產品中由互連線引起的所有問題。SI解決的是信號傳輸過程中的質量問題，尤其是在高速領域，數字信號的傳輸不能只考慮邏輯上的實現

     博達實驗室，工程師具有多年研究背景，測試手段很多，涉及的儀器也很多，因此熟悉各種測試手段的特點，以及根據測試對象的特性和要求，選用適當的測試手段，對于選擇方案、驗證效果、解決問題等硬件開發活動，都能夠大大提高效率，起到事半功倍的作用。如果您需要類似的測試方案，歡迎您來電咨詢，我真誠的期待與您合作。

示波器的主要介紹：

Tektronix

DPO5104

Keysight

MSO804A

Tektronix

DPO73304DX

LeCroy

SDA845Zi-A

圖片

模擬帶寬

1 GHz

8 GHz

33 GHz

45GHz

采樣率

5 GS/s

20 GS/s

100 GS/s

120GS/s

模擬通道

4

4

4

4

高速信號測試項目：   

   Clock：時鐘信號（Clock Signal），有固定的時鐘頻率，于同步電路當中，扮演計時器的角色，保證相關的電子組件得以同步運作；測試主要分析精度和時序

    I2C：Inter-IC bus，共兩條連續總線，SCL和SDA。測試主要分析SCL和SDA之間的時序。

    SPI：串行外設接口（Serial Peripheral Interface），高速的，全雙工，同步的通信總線。測試主要分析clock、data_in、data_out、CS#之間的時序；

    SMI：串行管理接口（Serial Management Interface），也被稱作MII管理接口（MII Management Interface），包括MDC和MDIO兩條信號線。測試主要分析MDC和MDIO之間的時序；

MII接口的類型有很多，常用的有MII、RMII、SMII、SSMII、SSSMII、GMII、RGMII、SGMII、TBI、RTBI、XGMII、XAUI、XLAUI等。

    SGMII：串行千兆媒體獨立接口（serial gigabit media independent interface），SGMII是MAC和PHY之間的串行接口。測試主要分析SGMII_RX 和SGMII_TX的Eye Pattern；

    DDR：雙倍速率同步動態隨機存儲器（Dual Data Rate），其全稱為DDR SDRAM，而DDR3則是DDR的第三代產品。測試主要分析DDR3的DQ、DQS、AD、RAS、CAS等時序；

    SFP+：可插拔光學收發器接口，傳輸速率為10.3125Gbps。測試主要分析SFP+_TX的Eye Pattern；

    QSFP：四通道的SFP+接口的可插拔光學收發器接口，傳輸可達到40Gbps以滿足更高速率的要求。測試主要分析QSFP_TX的Eye Pattern；

    PCIe：高速串行計算機擴展總線標準（peripheral component interconnect express），速串行點對點雙通道高帶寬傳輸。測試主要分析PCIe_TX和PCIe_RX的Eye Pattern；

URAT：通用異步收發傳輸器（Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)，通常稱作UART。它將要傳輸的資料在串行通信與并行通信之間加以轉換。作為把并行輸入信號轉成串行輸出信號的芯片，UART通常被集成于其他通訊接口的連結上。

    MII：MII是英文Medium Independent Interface的縮寫，翻譯成中文是“介質獨立接口”，該接口一般應用于MAC層和PHY層之間的以太網數據傳輸，也可叫數據接口。（MAC與PHY間的管理接口一般是MDIO）

    HDMI：高清多媒體接口（High Definition Multimedia Interface，HDMI）是一種全數字化視頻和聲音發送接口，可以發送未壓縮的音頻及視頻信號。HDMI可用于機頂盒、DVD播放機、個人計算機、電視、游戲主機、綜合擴大機、數字音響與電視機等設備。HDMI可以同時發送音頻和視頻信號，由于音頻和視頻信號采用同一條線材，大大簡化系統線路的安裝難度。

    MIPI：MIPI聯盟，即移動產業處理器接口（Mobile Industry Processor Interface 簡稱MIPI）聯盟。MIPI（移動產業處理器接口）是MIPI聯盟發起的為移動應用處理器制定的開放標準和一個規范。

    USB：Universal Serial Bus（通用串行總線），標準的數據通信方式，現已發展到USB 4.0，測試主要分析接收端HOST、Device和發送端TP1

    PCI：Peripheral Component Interconnect(外設部件互連標準)，是一種同步的獨立于處理器的32位或64位局部總線。測試主要分析PCI_TX和PCI_RX的Eye Pattern；

    XAUI：其中的“AUI”部分指的是以太網連接單元接口（Ethernet Attachment Unit Interface）?！癤”代表羅馬數字10，它意味著每秒萬兆(10Gbps)。

    SFI：sfi接口SFI (SFP+high speed serial electrical interface）接口是一種基于交流耦合的差分低電壓高速接口，用于連接PHY和40G/100G光模塊。測試主要分析SFI_TX的Eye Pattern；

    SATA：SATA是Serial ATA的縮寫，即串行ATA。它是一種電腦總線，主要功能是用作主板和大量存儲設備（如硬盤及光盤驅動器）之間的數據傳輸。

DDR測試舉例：

Part No.

Measurement

Min.

Max.

Test Value

Unit

Results

U7

Clock Speed Grade

-

-

600.015

MT/s

Informational Only

tCK(avg), rise

-

-

3.333

ns

Informational Only

tCK(avg), fall

-

-

3.333

ns

Informational Only

tCK(abs), rise, min

-

-

3.278

ns

Informational Only

tCK(abs), rise, max

-

-

3.380

ns

Informational Only

tCK(abs), fall, min

-

-

3.273

ns

Informational Only

tCK(abs), fall, max

-

-

3.388

ns

Informational Only

Part No.

Measurement

Min.

Max.

Test Value

Unit

Results

U7

SlewR of DQ min

-

-

2.4866

GV/S

Informational Only

SlewR of DQS min

-

-

4.7998

GV/S

Informational Only

SlewR of CK min

-

-

0.8292

GV/S

Informational Only

SlewF of DQ min

-

-

2.7007

GV/S

Informational Only

SlewF of DQS min

-

-

5.2773

GV/S

Informational Only

SlewF of CK min

-

-

0.7657

GV/S

Informational Only

Part No.

Measurement

Min.

Max.

Test Value

Unit

Results

U7

tDQSQ Max

-

240

45

ns

Pass

tHP

-

-

1.428

ns

Informational Only

tQHS Max

-

340

252

ps

Pass

tQH Min

1.088

-

1.573

ns

Pass

tDQSCK max

-

400

163

ns

Pass

tDQSCK min

-400

-

32

ns

Pass

Clock Tests - tJIT(duty)

Clock Tests - all but tERR(nper)

Clock Tests - tJIT(cc)

Clock Tests - tERR(2per), tERR(3per)

Part No.

Parameter

Specification

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U48

Trigger

-

-

1

1

Informational Only

Clock Speed Grade

-

-

1.333e+09

T/s

Informational Only

tCK(avg)rise

-

-

1.500

ns

Informational Only

tCK(avg)fall

-

-

1.500

ns

Informational Only

tCK(abs)risemin

1.420

-

1.482

ns

Pass

Part No.

Parameter

Specification

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U48

SlewR of DQ min

-

-

3.03414

GV/S

Informational Only

SlewR of DQS min

-

-

7.29091

GV/S

Informational Only

SlewR of CK min

-

-

5.89943

GV/S

Informational Only

SlewF of DQ min

-

-

2.7615

GV/S

Informational Only

Part No.

Parameter

Specification

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U48

tDQSQ Max

-

125.0

101.3

ps

Pass

tQSH Min

400.0

-

472.8

mtCK(avg)

Pass

tQSL Min

400.0

-

514.5

mtCK(avg)

Pass

tQH Min

380.0

-

539.7

mtCK(avg)

Pass

Clock Tests - Waveforms acquired used to measure

Clock Frequency

Clock Tests - all but tERR(nper)

Clock Tests - tERR(2per) to tERR(5per)

SATA舉例測試：

關于我們實驗室————

BDCOM博達實驗室坐落于上海浦東張江高科技園區，擁有二十多年的技術累積，搭建了成熟完善的測試平臺，可以提供硬件測試外包服務和測試儀器租憑服務！